CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的主要用途有:
1:利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;
2:利用50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;
3:利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;
4:利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;
5:利用25mm厚 度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;
6:利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;
7:利用50、44和40mm三個臺階孔測定斜探頭分辨力。
標準試塊 和 對比試塊 的區(qū)別主要體現(xiàn)在以下幾個方面:
目的不同:標準試塊 通常由權l(xiāng)威機構指l權l(xiāng)威定,用于探傷系統(tǒng)的性能測試或靈敏度調(diào)整。它的材質(zhì)、形狀、尺寸都有專門的規(guī)格標準,非標試塊定制,并且需要經(jīng)過主管機關的鑒定。
對比試塊 主要用于調(diào)整探傷系統(tǒng)的靈敏度和比較缺陷的大小,它是用來作為參考標準的,一般采用與被檢測材料特性相似的材料制成。
特性的要求不同:
標準試塊 必須具有規(guī)定的材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài),這些特性有專門的標準規(guī)定。
對比試塊 的外形尺寸應能夠代表被檢工件的特征,且試塊厚度應與被檢工件的厚度相對應。此外,對比試塊還包含人工反射體,以便與被檢工件進行聲學特性的比較。
使用的場合不同:標準試塊 通常用于正式的檢測場合,以確保檢測結果的準確性和可靠性。對比試塊 可能更多地用于非正式的檢測過程,如在實驗室環(huán)境中對探傷系統(tǒng)進行調(diào)試或在現(xiàn)場檢測中使用,以幫助確定合適的參數(shù)設置。
滲透試塊使用注意事項
1、滲透試塊重復使用前,用溶劑清洗;可用硬毛毛刷刷洗,然后干燥待用。
2、滲透試塊應按照所得探傷劑制造廠商的使用說明書,在試塊上實施滲透檢驗程序。
3、由于使用著色滲透探傷劑進行試驗后,會對熒光滲透劑進行試驗時的熒光顯示有些影響,因此對使用熒光和著色探傷時,應分別對配備兩套滲透試塊使用。
4、使用后應及時清洗,應盡量消除所有滲透探傷劑的痕跡,然后在丙l酮或酒精中進行浸泡1-2小時。使用后清洗是否及時,直接影響試塊的使用壽命。
5、試塊不用時宜置于干燥器或浸泡于*中。
6、試塊在使用過程中如發(fā)現(xiàn)無法顯示缺陷原有特征及時更換。
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