錫林郭勒盟住友光纖熔接機(jī)熔接損耗大維修-訊卓

維護(hù)保養(yǎng)光纖熔接機(jī)的易損耗材為放電的電極?；痉烹?000次左右就需要更換新電極。更換電極方法：首先取下電極室的保護(hù)蓋，松開固定上電極的螺絲，取出上電極。然后松開固定下電極的螺絲，取出下電極。新電極的安裝順序與拆卸動作相反，要求兩電極尖間隙為：2.6±0.2mm，并與光纖對稱。通常情況下電極是不須調(diào)整的。在更換的過程中不可觸摸電極，以防損壞，并應(yīng)避免電極掉在機(jī)器內(nèi)部。更換電極后須進(jìn)行電弧位置的校準(zhǔn)或是自己做一下處理，重新打磨，但是長度會發(fā)生變化相應(yīng)的熔接參數(shù)也需做出修改。

光纜進(jìn)站后的成端質(zhì)量的優(yōu)劣， 將直接影響光纖鏈路的傳輸性能及整個系統(tǒng)的通信質(zhì)量. 因此， 采用合理、可靠的成端方式至關(guān)重要. 特別是光纜城域網(wǎng)大規(guī)模普及應(yīng)用的今天，光纜的成端工藝更迫切需要標(biāo)準(zhǔn)化， 規(guī)范化. 而欲達(dá)到此目的， 相應(yīng)的解決方案除了光纜技 術(shù)人員不斷地在工程中總結(jié)，完善成端工藝外，尚需 T B X 柜式O F -O ， D 生產(chǎn)商家將產(chǎn)品在出廠前就通過工程應(yīng)用來論證其設(shè)計是否科學(xué)， 并且在產(chǎn)品出廠時配備 建議使用的說明書，進(jìn)一步來提高光纜通信工程的質(zhì)量.熔接點(diǎn)的損耗值進(jìn)行測試，顯然行不通. 但改用O R的光纖衰減測試的 ' D T 兩點(diǎn)法' 卻可 ， 推算出熔接損耗. 即將OTDR的兩個測試點(diǎn)在設(shè)置上分 別避開OTDR測試曲線的前端及末端的兩個菲涅爾反 射峰， 記錄下被測光纖的公里衰減值， 并根據(jù)其值的大 小與國家規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)相比較， 來確定成端接續(xù)質(zhì)量的好 壞.另外局域網(wǎng)中光纖路徑較短，成端者也可通過對 O D 的背向散射曲線波形進(jìn)行觀側(cè). TR 即根據(jù)其波形的 始端至中部是否平坦， 來判定其熔接值大小. 當(dāng)測試曲 線無明顯的下降臺階時， 即可認(rèn)為成端熔接值合格. 若 測試曲線有臺階則需重新熔接.

成端的熔接質(zhì)量無法監(jiān)測對于光纖熔接質(zhì)量的監(jiān)測， 目前在工程中主要有3 種監(jiān)測方法，住友光纖熔接機(jī)熔接損耗大維修，一是利用熔接機(jī)的顯示屏幕進(jìn)行監(jiān)測;二是利用OTDR對接續(xù)點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)測;三是利用光源，光功率計對熔接損耗進(jìn)行剪斷或是插入測試， 但由于剪斷 或是插入都屬于破壞性測試， 故在工程中多不采用.下面就前兩種監(jiān)測方式進(jìn)行探討:利用熔接機(jī)進(jìn)行監(jiān)測:熔接機(jī)是采用P S A 影像技術(shù)， 通過對圖像數(shù)據(jù)處理提取光纖位置參數(shù)， 來兩根熔接光纖的對芯情況， 對熔接部位的連接情況粗略估算. 那么， 工程應(yīng)用中， 成端者就可利用該原理來估算成端熔接值. 首先調(diào)整熔接機(jī)顯示屏幕的聚焦旋鈕， 使屏幕能清晰地顯示出待熔光纖的纖芯與包層的明暗界線. 然后熔接中注意觀察兩根光纖的纖芯與包層界面， 當(dāng)熔接時，熔接點(diǎn)沒有氣泡產(chǎn)生或是兩根光纖的纖芯， 包層界面保持直線無扭曲現(xiàn)象， 就可認(rèn)為熔接損耗是在合格范圍之內(nèi).否則，則視為不合格，需重新熔接.利用OTDR對成端熔接監(jiān)測時，由于進(jìn)站光纜 D T 成端接續(xù)中，無論是T B X法，還是O F D 法，供接續(xù)的尾纖長不過 15 該長度是任何OTDR的盲區(qū)

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