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蘇州圣全科技有限公司
主營：蘇州無損檢測設備,xray無損檢測,蘇州探傷儀
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圣全科技是一家專門從事工業(yè)自動化設備、技術支持、售后服務、設備租賃、安裝維護、方案開發(fā)和調(diào)試檢查以及工裝夾具設計制造的企業(yè)。
3D檢驗法采用分層技術，即將光束聚焦到任何一層并將相應圖像投射到一高速旋轉(zhuǎn)的接受面上，由于接受面高速旋轉(zhuǎn)使位于焦點處的圖像非常清晰，而其它層上的圖像則被消除，故3D檢驗法可對線路板兩面的焊點獨立成像。
在國內(nèi)AOI檢測技術是近幾年才興起的一種新型測試技術，且發(fā)展實力迅猛。雖然當前 AOI 技術主要用在SMT 生產(chǎn)在線，但隨著設備應用范圍的不斷拓寬，將來會越來越多用于其它生產(chǎn)線檢測產(chǎn)品。凡是需要人眼目檢的生產(chǎn)環(huán)節(jié)都可以用機器視覺來取代，比如用于太陽能光伏生產(chǎn)線檢測太陽能電池、用于LCD生產(chǎn)線檢測面板產(chǎn)品。這些新的應用領域?qū)⑦M一步促進對AOI 相關設備的需求。
由于IC芯片比較精密主要由微型電子器件或部件構(gòu)成。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，VAREX平板探測器，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質(zhì)基片上，然后封裝在一個管殼內(nèi)，成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)；其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進了一大步。但越精密的電路，檢測難度就越復雜。當前芯片檢驗的常用方法通常是將芯片層層剝開，再用電子顯微鏡對每一層表面進行拍攝，這樣檢測方式對芯片具有極大破壞性，此時，X-ray無損檢測設備可提供解決方案。
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第4年
