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蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司
主營：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀
Simply The Best
>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實(shí)現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測器可實(shí)現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點(diǎn)位測量功能有助于提高測量精度。
XRF金屬鍍層測厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)
>測試快速，無需樣品制備
>可通過內(nèi)置高清CCD攝像機(jī)來觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸，微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plus，污染或破壞被測物
>備有多種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品
>可覆蓋元素周期表Mg鎂到U鈾
>SDD檢測器，具有高計(jì)數(shù)范圍和出色的能量分辨率
>可切換準(zhǔn)直器和濾光片
XRF金屬鍍層測厚儀應(yīng)用場景
>EDX8000B鍍層測厚儀可以用于PCB鍍層厚度測量，PCB鍍層分析，金屬電鍍鍍層分析；
>測量的對象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學(xué)生成膜等
>可測量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度
溫馨提示：以上是關(guān)于吉林微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plus-英飛思科學(xué)儀器公的詳細(xì)介紹，產(chǎn)品由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為您提供，如果您對蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應(yīng)商或者讓供應(yīng)商主動聯(lián)系您 ，您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品！
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第4年
