英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢
>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域,實(shí)現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測器可實(shí)現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點(diǎn)位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量
配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進(jìn)行日常測量。
全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進(jìn)行日常測量。材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。
使用注意事項(xiàng)編輯 語音測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。測量注意事項(xiàng):⒈在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。⒉測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。 EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀-英飛思科學(xué)由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司是從事“光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀”的企業(yè),公司秉承“誠信經(jīng)營,用心服務(wù)”的理念,為您提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)。歡迎來電咨詢!聯(lián)系人:張經(jīng)理。溫馨提示:以上是關(guān)于EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀-英飛思科學(xué)的詳細(xì)介紹,產(chǎn)品由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為您提供,如果您對(duì)蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應(yīng)商或者讓供應(yīng)商主動(dòng)聯(lián)系您 ,您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品!
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