XRF鍍層測厚儀工作原理
鍍層測厚儀EDX8000B是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。
全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進(jìn)行日常測量。材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。
膜厚儀EDX8000B可分析的常見鍍層材料
可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等
多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn,EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀, Ni/Cu/Fe等
合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe, 同時分析鎳磷含量和鍍層厚度
英飛思科學(xué)-大同EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司堅(jiān)持“以人為本”的企業(yè)理念,擁有一支高素質(zhì)的員工隊(duì)伍,力求提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)回饋社會,并歡迎廣大新老客戶光臨惠顧,真誠合作、共創(chuàng)美好未來。英飛思科學(xué)——您可信賴的朋友,公司地址:蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2號樓407室,聯(lián)系人:張經(jīng)理。溫馨提示:以上是關(guān)于英飛思科學(xué)-大同EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀的詳細(xì)介紹,產(chǎn)品由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應(yīng)商或者讓供應(yīng)商主動聯(lián)系您 ,您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品!
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