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x射線發(fā)生裝置使用范圍：
金屬材料：半導(dǎo)體材料、合金、超導(dǎo)材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復(fù)合材料：碳纖維、纖維大分子、工業(yè)廢棄物；有機材料：品、工程塑料、各種樹脂等。利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機乳膠感、氣體電離，測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，低能x射線發(fā)生裝置哪家好，織構(gòu)及應(yīng)力，的進(jìn)行物相分析，定性分析，低能x射線發(fā)生裝置，定量分析。
x射線發(fā)生裝置角度校準(zhǔn)的光學(xué)新方法
目前x射線發(fā)生裝置的角度檢定和校準(zhǔn)測試主要依據(jù)JJG 629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程》和JB/T 9400—2010《X射線衍射儀技術(shù)條件》等技術(shù)文件，具體方法是采用光學(xué)經(jīng)緯儀或多面棱體等進(jìn)行測試，該測量方法實際應(yīng)用中存在一定難度，其次測量間隔較大，低能x射線發(fā)生裝置廠家，不能很好反映真實的角度誤差規(guī)律.為此，提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨立運動的特點，組合采用光電自準(zhǔn)直儀和小角度激光干涉儀等儀器，低能x射線發(fā)生裝置多少錢，設(shè)計了一種新的XRD的角度校準(zhǔn)方法，它能夠自動快速地連續(xù)測量角度，取k=2時，擴展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠得到θ和2θ軸的誤差數(shù)據(jù)，可用于修正XRD測角誤差，提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統(tǒng)等其他需要角度校準(zhǔn)的情況.
x射線發(fā)生裝置工作原理
給陰極加上一定的電流被加熱時，便能放出熱輻射電子。在數(shù)萬伏特高壓電場的作用下，這些電子被加速并轟擊陽極（又被稱為靶）。陽極靶面上受電子束轟擊的焦點呈細(xì)長的矩形狀（稱線焦點或線焦斑），從射線出射窗中心射出的X射線與靶面的掠射角為3°-6°。從出射方向垂直焦斑長邊的兩個出射窗口觀察，焦斑呈線狀的稱為線光源；從另外兩個出射窗口觀察，焦斑如點狀稱為點光源。在衍射儀每次安裝管子時，必須辨別所使用X射線出射窗口是否為線焦點方向。此外，還要求測角儀相對于靶面平面要有適當(dāng)?shù)膬A斜角。
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第5年
