光刻膠膜厚儀的測量原理是?
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  • 光刻膠膜厚儀的測量原理主要基于光學(xué)干涉和反射原理。該儀器發(fā)出特定波長的光波,這些光波穿透光刻膠膜層。在穿透過程中,光的一部分在膜層的上表面反射,另一部分在膜層的下表面反射。這兩個反射光波之間會產(chǎn)生相位差,這個相位差受到薄膜的厚度和折射率的影響。當(dāng)相位差為波長的整數(shù)倍時,上下表面的反射光波會產(chǎn)生建設(shè)性疊加,使得反射光的強(qiáng)度增強(qiáng),此時反射率達(dá)到******。而當(dāng)相位差為波長的半整數(shù)倍時,反射光波會發(fā)生破壞性疊加,導(dǎo)致反射光強(qiáng)度減弱,反射率達(dá)到******低。對于其他相位差,反射率則介于******和******小之間。通過測量反射光的強(qiáng)度,并與已知的光學(xué)參數(shù)進(jìn)行比較,可以推導(dǎo)出光刻膠膜的厚度。此外,儀器還可以根據(jù)反射光的角度分布或其他特性,進(jìn)一步確定光刻膠膜的其他相關(guān)參數(shù),如均勻性和表面形貌等。光刻膠膜厚儀的測量原理不僅具有高精度和高可靠性的優(yōu)點(diǎn),而且非接觸式測量方式不會對光刻膠膜造成損傷,適用于各種類型的光刻膠膜厚測量需求。在半導(dǎo)體制造、微電子器件等領(lǐng)域中,光刻膠膜厚儀發(fā)揮著重要作用,為工藝控制和產(chǎn)品質(zhì)量提供了有力保障。

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